Outlier Detection

系統中有二種 outlier detection 的方法:

  • SPAT : 適用於CP & FT
  • GDBN : 適用於 CP

SPAT : 是依循AEC-Q001 中的SPAT 規範指引所設計。但為了使用彈性所以並不將管理規章直接放入系統, 而是由系統參數和使用者自行管理, 如製程變更、程式改變…等。以下為重要原則:

  • Robust Mean , Robust Sigma : 只用 PASS data.
  • 當多批資料含有不同限值時, 採用的限值由參數設定,
  • 當求出的PAT 限值不合理時, 不顯示.如: 資料內容有問題或是PAT限值無法滿足(如: Robust Sigma = 0)
  • 顯示的統計量值有:
    • 採用的的限值, 和資料的數量和極值
    • 以(PAT fails=42, Rate=0.29%)  PAT 為限值對這個測項的影響和 %FpE

(Masked Fails=123(95) Rate=0.85%) PAT 為限值並考量其它測項的 PASS/FAIL 中的 Fail 狀況的所有 Fails 總數. 如上資料, 原來這批資料的Fails 數為95 , 當只這個測項以PAT限值時, Fails 增加至123個. 為何 123-95 = 28 , 而不是42 ? 因為以PAT為限值時所判定為FAIL在原來資料的其它測項己判為 Fail.

GDBN:

  • 以 Die 的資料位置來判斷以做為 outlier detection
    • 將該圖樣以手動方式設定 weight權重或 pattern樣本方式來做為 outlier detection 的參數, 以用來評估GDBN 參數對 Pass/Fail 的影響. 當要執行 GDBN outlier detection 時必需至少要有一個可用的 Weight 或 Pattern 參數. 當二個參數同時為可用參數時, 以 Pattern 為主
    • 下載CSV檔案, 以 CSV 格式將 GDBN 資料下載.
    • 說明
      • Weight:
          • Inner: float, aOuter: float, bThreshold: float
          If Threshold > a*sum(G)/count(A) + b*sum(G) / count(B)
      • Pattern:
        •   
      • Type A: A1, A2, A3,A4
        • 判斷與 Good die 直接相鄰是否有 Fail Die?
          • A1: 1 x A , 最嚴格
          • A2: 2 x A
          • A3: 3 x A
          • A4: 4 x A
      • Type B: B1, B2, B3, B4, B5, B6, B7, B8
        • 判斷與 Good die 相鄰圏是否為 Fail Die?
          • B1: 1 x B,
          • B2: 2 x B, …..
          • B8: 8 x B, 最不嚴格