我們提供IC產業的良率分析平台服務, 專注於整個半導體產業的上下游體系。由IC製造、IC測試、封裝和IC設計時各階段所生成的工程資料, 提供視覺化分析的服務。我們的平台是一個SaaS 的服務平台，讓用戶可以以最容易和最可付擔的方式即可使用平台服務。不論您公司是數位式/類比式/混合式的IC設計公司或是測試廠商，當您開始使用本平台服務後，可由本服務平台獲得前所未有的資料洞查和深度體驗。
IC 設計之良率分析
半導體良率分析是確保半導體產品品質和生產效率的關鍵。 它涉及評估和改進製造過程，以最大程度地減少缺陷並提高合格產品的比例。 這需要對製造流程中的各個階段進行仔細監控和分析，並使用各種技術和工具來診斷和解決問題。半導體良率分析的具體步驟和考量因素包括：
1. 數據收集與分析:
- 收集大量資料數據:從各個製程階段收集生產數據，包括設備參數、測試結果、缺陷位置等。
- 數據清洗與預處理:清理和轉換數據，確保其準確性和一致性。
- 統計分析:使用統計方法，如迴歸分析、方差分析等，來識別影響良率的主要因素。
- 視覺化分析:使用圖表、儀表板等視覺化工具，更直觀地呈現數據，幫助發現模式和異常。
2. 良率問題診斷:
- 缺陷分析: 仔細檢查缺陷的類型、位置和成因，確定其根源。
- 失效模式分析(FMEA): 識別潛在的失效模式，並評估其對良率的影響。
- 根本原因分析(RCA): 深入調查問題的根本原因，並制定解決方案。
3. 良率提升措施:
- 製程優化: 調整製程參數，減少缺陷產生。
- 設備維護: 定期維護和校準設備，確保其正常運行。
- 材料控制: 嚴格控制原材料的質量，避免引入缺陷。
- 人員培訓: 確保操作人員熟悉製程要求，避免人為錯誤。
- 自動化: 引入自動化設備和系統，提高生產效率和一致性。
4. 良率監控與預警:
- 建立良率監控系統: 持續監控良率變化，及時發現異常情況。
- 設定預警閾值: 當良率低於預設閾值時，發出警報，及時採取措施。
- 持續改進: 不斷收集數據，分析問題，並改進製程，以實現良率的最大化。
5. 其他考量因素:
- 成本效益:在採取良率提升措施時，需要考慮成本因素，選擇最具效益的方案。
- 生產時間:有些良率提升措施可能需要較長的生產時間，需要權衡時間和效益。
- 產品類型:不同類型的半導體產品，其良率分析方法和重點可能有所不同。
半導體良率分析是一個持續不斷的過程，需要不斷地學習和改進，才能在激烈的市場競爭中保持優勢。
我們的平台, ChipZone, 可以分析IC生產中各個階段委外協力商的資料, WAT/CP/FT 。ChipZone 的開發和維運團隊都是深耕於台灣的技術人員, 除了STDP之.STD 標準格式和己完成的資料格式之外, 也可以客製化開發目前未支援的資料格式和編碼方式, 以完成完整的供應鏈解決方案。並以視覺化的工具提供多樣的分析面向和資料的統計量, 協助測試工程師或是產品工程師可以由供應商的測試資料之中, 快速的找到生產或設計的問題和趨勢, 以便可以更深層的了解資料的分佈或內含。 經由系統的管理來解決資料格式、大量資料不易判讀和判讀不一致等的人為和管理問題, 可以由系統自動通報以減少作業負擔和專注於超過設定值的作業, 掌握住產品進入市場的時機。
ChipZone 平台導入是以展示、驗證、測試及上線作業為流程。客戶可以準備驗證的資料交付平台顧問來驗證平台的適用性和調整的內容, 讓公司的投資得到最佳的回報。ChipZone 平台非常適用於IC設計公司和IC測試公司的 Product Engineer/Test Engineer/Qality Engineer/Yield Enhancement Engineer來使用, 以下是 ChipZone 的產品特色:
- 容器化微服務的系統架構和雲端服務,
- 參數化分析,
- 多樣式資料格式支援: WAT / CP / FT, 檔案格式包含.csv , .std等
- 資料處理方式: 工程資料、分批測試、合併測試,
- 分析報表和分析總表,
- 各式統計量測量和計算,
- 多樣式分析圖表和量值正規化: 直方圖、機率累積圖、盒狀圖……,
- 測項統計分析及選擇, 多檔案資料源比較視圖
- 手動分析和自動分析主動通報,
- 檔案和權限管理,
- 中、英文語系支援.
歡迎聯絡洽談, 以取得展示、測試驗證等詳細資料。以下是參考的輸出圖樣.
直方圖
P-Chart
WaferPlot map, CP
Wafer test point map, WAT
