我們提供IC產業的良率分析平台服務, 專注於整個半導體產業的上下游體系。由IC製造、IC測試、封裝和IC設計時各階段所生成的工程資料, 提供視覺化分析的服務。我們的平台是一個SaaS 的服務平台，讓用戶可以以最容易和最可付擔的方式即可使用平台服務。不論您公司是數位式/類比式/混合式的IC設計公司或是測試廠商，當您開始使用本平台服務後，可由本服務平台獲得前所未有的資料洞查和深度體驗。
我們的平台, ChipZone, 可以分析IC生產中各個階段委外協力商的資料, WAT/CP/FT 。ChipZone 的開發和維運團隊都是深耕於台灣的技術人員, 除了STDP之.STD 標準格式和己完成的資料格式之外, 也可以客製化開發目前未支援的資料格式和編碼方式, 以完成完整的供應鏈解決方案。並以視覺化的工具提供多樣的分析面向和資料的統計量, 協助測試工程師或是產品工程師可以由供應商的測試資料之中, 快速的找到生產或設計的問題和趨勢, 以便可以更深層的了解資料的分佈或內含。 經由系統的管理來解決資料格式、大量資料不易判讀和判讀不一致等的人為和管理問題, 可以由系統自動通報以減少作業負擔和專注於超過設定值的作業, 掌握住產品進入市場的時機。
ChipZone 平台導入是以展示、驗證、測試及上線作業為流程。客戶可以準備驗證的資料交付平台顧問來驗證平台的適用性和調整的內容, 讓公司的投資得到最佳的回報。ChipZone 平台非常適用於IC設計公司和IC測試公司的 Product Engineer/Test Engineer/Qality Engineer/Yield Enhancement Engineer來使用, 以下是 ChipZone 的產品特色:
- 容器化微服務的系統架構和雲端服務,
- 參數化分析,
- 多樣式資料格式支援: WAT / CP / FT, 檔案格式包含.csv , .std等
- 資料處理方式: 工程資料、分批測試、合併測試,
- 分析報表和分析總表,
- 各式統計量測量和計算,
- 多樣式分析圖表和量值正規化: 直方圖、機率累積圖、盒狀圖……,
- 測項統計分析及選擇, 多檔案資料源比較視圖
- 手動分析和自動分析主動通報,
- 檔案和權限管理,
- 中、英文語系支援.
歡迎聯絡洽談, 以取得展示、測試驗證等詳細資料。以下是參考的輸出圖樣.
直方圖
P-Chart
WaferPlot map, CP
Wafer test point map, WAT
